離子色譜法是鹵素含量測(cè)定簡單而又常見的方法,尤其是無機(jī)鹵素,可以直接進(jìn)樣同時(shí)分析。本文重點(diǎn)分析一下:有機(jī)鹵化物鹵素含量的測(cè)定 離子色譜-高溫裂解爐聯(lián)用技術(shù)。有機(jī)鹵化物不能直接進(jìn)樣分析,需要轉(zhuǎn)化為無機(jī)鹵化物。有機(jī)鹵化物對(duì)生態(tài)環(huán)境有著較大的危害,大部分為持久性有機(jī)污染物,它們不易生物降解,有著致畸、致癌和致突變型的負(fù)面影響,已越來越引起人們的密切關(guān)注。
GB/T37861-2019《電子電氣產(chǎn)品中鹵素含量的測(cè)定 離子色譜法》規(guī)定:用氧彈燃燒法對(duì)電子元器件樣品進(jìn)行燃燒,用碳酸鈉作為吸收液進(jìn)行吸收,離子色譜法分離測(cè)定微量鹵素離子。
HJT83-2001《水質(zhì)可吸附有機(jī)鹵素(AOX)的測(cè)定 離子色譜法》規(guī)定:用活性炭吸附水中的有機(jī)鹵素化合物,然后將吸附上有機(jī)物的活性炭放入高溫爐中燃燒、分解、轉(zhuǎn)化為鹵化氫,經(jīng)堿性水溶液吸收,用離子色譜法分離測(cè)定鹵素含量。
以上兩種方法都能很好地檢測(cè)微量的鹵素含量,但都是在前處理和檢測(cè)分開的情況下進(jìn)行的檢測(cè),它不能實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的檢測(cè),且對(duì)一些有輻射的物質(zhì)沒有辦法檢測(cè)。目前,普仁儀器推出的離子色譜-高溫裂解爐聯(lián)用技術(shù),不僅可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)進(jìn)行多個(gè)樣品前處理,且與IC聯(lián)用,完成前處理和進(jìn)樣分析自動(dòng)化,可迅速完成有機(jī)質(zhì)樣品的處理和檢測(cè)。
離子色譜-高溫裂解爐聯(lián)用技術(shù)原理是:樣品首先在裂解爐內(nèi)的低氧生態(tài)環(huán)境中熱分解,隨后在高氧生態(tài)環(huán)境中燃燒,燃燒生成的各類氣體被吸收液吸收后,進(jìn)入離子色譜分析,真正實(shí)現(xiàn)了無人值守,前處理和分析的自動(dòng)完成,同時(shí)還可實(shí)現(xiàn)超低含量樣品多次燒樣一次吸收的功能,彌補(bǔ)了傳統(tǒng)離線方法的不足,保證了分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。該技術(shù)完全可以滿足GB/T37861-2019,HJ/T83-2001的要求,可廣泛運(yùn)用于核工業(yè)、石化工業(yè)、煤化工、生態(tài)環(huán)境、藥物、材料等領(lǐng)域。
實(shí)驗(yàn)條件
儀器 :普仁離子色譜儀-高溫裂解爐聯(lián)用
柱子 :陰離子色譜柱
淋洗液 : 碳酸根體系/OH體系
流速 :1.0mL/min
柱溫 :36.5℃
進(jìn)樣體積:100uL
圖一:標(biāo)準(zhǔn)譜圖
圖二:某電子單位固體樣品圖
圖三:兩平行樣譜圖疊加
稱取相同質(zhì)量的固體樣品兩份進(jìn)行分析,得到很好的重現(xiàn).數(shù)據(jù)如下:
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組份名稱 |
數(shù)據(jù) |
RSD/% |
||
|
F- |
保留時(shí)間(min) |
2.043 |
2.041 |
0.06 |
|
峰面積(uV.s) |
111750 |
115892 |
2.57 |
|
|
Cl- |
保留時(shí)間(min) |
4.048 |
4.024 |
0.41 |
|
峰面積(uV.s) |
1381930 |
1356556 |
1.31 |
|
|
Br- |
保留時(shí)間(min) |
8.018 |
8.034 |
0.15 |
|
峰面積(uV.s) |
38052 |
37187 |
1.63 |
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圖四:三次樣品圖疊加
稱取相同質(zhì)量的固體樣品三份進(jìn)行分析,得到很好的重現(xiàn).數(shù)據(jù)如下:
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組份名稱 |
數(shù)據(jù) |
RSD/% |
|||
|
F- |
保留時(shí)間(min) |
2.049 |
2.043 |
2.041 |
0.21 |
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峰面積(uV.s) |
108743 |
111750 |
115892 |
3.20 |
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|
Cl- |
保留時(shí)間(min) |
4.069 |
4.048 |
4.024 |
0.55 |
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峰面積(uV.s) |
1301908 |
1381930 |
1356556 |
3.04 |
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Br- |
保留時(shí)間(min) |
8.071 |
8.018 |
8.034 |
0.34 |
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峰面積(uV.s) |
34844 |
38052 |
37187 |
4.52 |
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